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• AMAZINGIC晶焱科技：为何EOS(Surge)逐渐被硬体设计人员重视？

  现今的市场很重视米乐M6产品在使用时的稳定，所以硬体研发人员在设计产品时，静电放电波型(ESD，ElectrostaticDischarge)已成为必定会测试的项目之一。然而，近年来研发人员也会同时考量测试另一种破坏性更强的EOS(ElectricalOverStress)波型，而IEC61000-4-5的EOS模拟波型是最...

• AMAZINGIC晶焱科技：手机产品应用的EOS测试需求与方案

  手机已经演变成人类生活中最不可或缺的米乐M6产品，并且是全球使用最多及最频繁的米乐M6产品。对于其庞大的使用量，不仅仅在于平时对屏幕的点击，对于充电口或耳机界面的插拔也是常用动作。所以手机的品质及性能对于使用者体验尤其重要，尤其在智能手机的普及使用下，频繁充电已成为...

• AMAZINGIC晶焱科技：汽车米乐M6 EOS 测试与防护

  因牵涉到人身安全且需确保车辆正常行驶，车用产品的测试条件会比一般消费性产品还要严苛许多，大部分采用的EMC测试法规都是车载专用标准，因此汽车米乐M6的验证几乎是独立于其他领域的。本文将集成晶焱科技深耕车用市场的经验，探讨汽车OEM所定义的EOS测试、ISO法规及其采用的EOS...

• 在生产线或应用时，造成EOS破坏的原因

  在生产线或应用时，造成EOS破坏的原因随着半导体制程技术越来越先进、操作电压越来越低以及系统功能越来越复杂，导致EOS(ElectricalOverStress，过度电性应力)更容易窜到系统内部，使得损坏面积加大。多年来，EOS一直是科技产业产品故障率最高的原因之一。但就解决时间和成本而...

• 系统内部电路中 主芯片内部电源提供 EOS 防护

  系统内部电路中主芯片内部电源提供EOS防护对于系统而言，较常见的EOS事件多发生于对外接口(如:USB、HDMI…等)，因此通常对外接口都会加上TVS元件加强EOS的防护。但除了对外接口，在市场端其实也有发生系统主芯片的Corepower因EOS能量而造成的烧毁事件。举例来说，晶焱科...

• 面板产品应用的EOS最佳解決方案

  面板产品应用的EOS最佳解決方案近年来随着各个显示屏模组厂商在针对静电放电(ESD)防护方案愈加完善，较少出现产品在测试时或者生产中、后期出现ESD事件导致显示屏损伤的情况，而是产品受EOS损伤的情况却屡屡发生。EOS事件带来的破坏往往是永久性的物理损伤，比如导致T-CON或Dr...

• AMAZINGIC晶焱科技：TVS Array layout时应注意的事项

  AMAZINGIC晶焱科技：TVSArraylayout时应注意的事项近年随着米乐M6产品小型化的趋势，R&D研发人员在设计产品时往往会面临到因PCB空间较小而造成PCBGND的宣泄路径不佳，容易导致无法通过ESD/EOS测试的问题，为了顺利通过IEC-61000-4-2及IEC-61000-4-5防护测试规范，R&D研...

• AMAZINGIC晶焱科技：Ethernet网口的ESD/EOS防护方案

  AMAZINGIC晶焱科技：Ethernet网口的ESD/EOS防护方案网口在NB、MB、IP-CAM等产品上属于相当常见的端口，因网络有可能布线至户外，受到EOS突波干扰而造成网络功能异常的机率较高，故有必要在网口设计有效率的ESD/EOS防护对策。如图一所示，网口的架构由外部往内可大致切分成3大...